Search
Abstract
W artykule omówiono konstrukcje elektrooptycznych układów próbkujących wykorzystujących ceramikę PLZT. Zaprezentowano także zagadnienia związane z pomiarami istotnych parametrów cienkich warstw tej ceramiki - grubości warstwy, współczynnika załamania i współczynnika elektrooptycznego. Przedstawiono kierunki dalszych prac.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
no. R. 51,
pages 116 - 118,
ISSN: 0033-2089 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2010
- Bibliographic description:
- Wierzba P.: Szybkie elektrooptyczne układy próbkujące wykorzystujące ferroelektryczną ceramikę PLZT// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. R. 51., nr. Nr 6 (2010), s.116-118
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 64 times