Wyszukiwarka
Abstrakt
W artykule omówiono konstrukcje elektrooptycznych układów próbkujących wykorzystujących ceramikę PLZT. Zaprezentowano także zagadnienia związane z pomiarami istotnych parametrów cienkich warstw tej ceramiki - grubości warstwy, współczynnika załamania i współczynnika elektrooptycznego. Przedstawiono kierunki dalszych prac.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
nr R. 51,
strony 116 - 118,
ISSN: 0033-2089 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2010
- Opis bibliograficzny:
- Wierzba P.: Szybkie elektrooptyczne układy próbkujące wykorzystujące ferroelektryczną ceramikę PLZT// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. R. 51., nr. Nr 6 (2010), s.116-118
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 74 razy