Search
Abstract
Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w prze-strzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedyn-czych uszkodzeń parametrycznych w pierwszej w kolejności uszkodzonej sekcji filtra.
Authors (2)
Cite as
Full text
download paper
downloaded 15 times
- Publication version
- Accepted or Published Version
- License
-
open in new tab
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Measurement Automation Monitoring
pages 745 - 748,
ISSN: 2450-2855 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2014
- Bibliographic description:
- Czaja Z., Bartosiński B.: Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1// Pomiary Automatyka Kontrola. -., nr. 9 (2014), s.745-748
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 136 times