Search
Abstract
W referacie przedstawiono rodzaje narażeń powodowanych impulsowymi zakłóceniami elektromagnetycznymi występującymi w środowisku urządzeń energoelektronicznych. Przedstawiono poziomy energii i źródła zakłóceń które stanowią wyładowania elektrostatyczne, przebiegi łączeniowe w obwodach indukcyjnych i wyładowania atmosferyczne. Przedstawiono sposoby badania odporności na zakłócenia impulsowe. Zaprezentowano wyniki uzyskane z przeprowadzonych testów narażeniami impulsowymi układu scalonego UCY 7400 oraz narażeń na obwód z tranzystorem bipolarnym. Określono wpływ parametrów impulsu zakłócającego na uszkodzenia badanych układów. Normy i przepisy zostały odniesione bezpośrednio do badanych elementów elektronicznych.
Authors (2)
-
Stanislaw Witkowski
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- [Materiały] Seminarium "Kompatybilność elektromagnetyczna, systemy uziemień" z cyklu Polskie Partnerstwo Jakości Zasilania. Gdańsk, 21 listopada 2003 strony 73 - 83
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2003
- Bibliographic description:
- Fagiewicz K., Witkowski S.: Elementy elektroniczne w środowisku dużej emisji elektromagnetycznej// [Materiały] Seminarium "Kompatybilność elektromagnetyczna, systemy uziemień" z cyklu Polskie Partnerstwo Jakości Zasilania. Gdańsk, 21 listopada 2003/ Gdańsk: Stow. Elektr. Pol. O/ Gdańsk, 2003, s.73-83
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 108 times