Wyszukiwarka
Abstrakt
W referacie przedstawiono rodzaje narażeń powodowanych impulsowymi zakłóceniami elektromagnetycznymi występującymi w środowisku urządzeń energoelektronicznych. Przedstawiono poziomy energii i źródła zakłóceń które stanowią wyładowania elektrostatyczne, przebiegi łączeniowe w obwodach indukcyjnych i wyładowania atmosferyczne. Przedstawiono sposoby badania odporności na zakłócenia impulsowe. Zaprezentowano wyniki uzyskane z przeprowadzonych testów narażeniami impulsowymi układu scalonego UCY 7400 oraz narażeń na obwód z tranzystorem bipolarnym. Określono wpływ parametrów impulsu zakłócającego na uszkodzenia badanych układów. Normy i przepisy zostały odniesione bezpośrednio do badanych elementów elektronicznych.
Autorzy (2)
-
Stanislaw Witkowski
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- [Materiały] Seminarium "Kompatybilność elektromagnetyczna, systemy uziemień" z cyklu Polskie Partnerstwo Jakości Zasilania. Gdańsk, 21 listopada 2003 strony 73 - 83
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2003
- Opis bibliograficzny:
- Fagiewicz K., Witkowski S.: Elementy elektroniczne w środowisku dużej emisji elektromagnetycznej// [Materiały] Seminarium "Kompatybilność elektromagnetyczna, systemy uziemień" z cyklu Polskie Partnerstwo Jakości Zasilania. Gdańsk, 21 listopada 2003/ Gdańsk: Stow. Elektr. Pol. O/ Gdańsk, 2003, s.73-83
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 108 razy