Search
Abstract
Przedstawiono ideę nowych metod diagnostycznych 3-D i 4-D opartych na przek-ształceniu biliniowym. Metody te bazują na transformacjach operujących odpo-wiednio w trzy i czterowymiarowych przestrzeniach funkcji układowych. Dlatych metod omówiono algorytm lokalizacji i identyfikacji pojedynczych uszko-dzeń parametrycznych w liniowych układach elektronicznych oraz algorytm lo-kalizacji i identyfikacji pojedynczych uszkodzeń podwójnych. Przedstawionorezultaty badań eksperymantalnych metody 4D weryfikujących użyteczność no-wych metod oraz implementację tej metdoy w sztucznej sieci neuronowej.
Citations
-
2 2
CrossRef
-
0
Web of Science
-
4 0
Scopus
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Published in:
-
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
no. 52,
pages 97 - 102,
ISSN: 0018-9456 - Language:
- English
- Publication year:
- 2003
- Bibliographic description:
- Czaja Z., Zielonko R.: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces// IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. -Vol. 52., nr. 1 (2003), s.97-102
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1109/tim.2003.809075
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 129 times