Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
Abstract
Przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
Author (1)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
Przegląd Elektrotechniczny
pages 33 - 36,
ISSN: 0033-2097 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Czaja Z.: Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym// Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. nr 9a (2011), s.33-36
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 67 times