Search
Abstract
Omówiono typowe źródła szumów występujące w przyrządach pólprzewodnikowych, a mianowicie: cieplne, śrutowe, generacyjno-rekombinacyjne, 1/f, 1/f2, wybuchowe (RTS), lawinowe. Przedstawiono szumowe schematy zastępcze tranzystora bipolarnego, JFET i MOSFET oraz opisano wydajności poszczególnych źródeł szumów. Zasugerowano jak dobierać przyrządy półprzewodnikowe do małoszumowych układów w zakresie małych częstotliwości.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Monographic publication
- Type:
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku w języku o zasięgu międzynarodowym
- Title of issue:
- The Industrial Electronics Handbook: Fundamentals of Industrial Electroncs strony 0 - 12
- Language:
- English
- Publication year:
- 2010
- Bibliographic description:
- Konczakowska A., Wilamowski B.: Noise in semiconductor devices// The Industrial Electronics Handbook: Fundamentals of Industrial Electroncs/ ed. eds. Bogdan M. Wilamowski, J. David Irwin. Chicago, USA: CRC Press, 2010, s.0-12
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 177 times