Abstrakt
Omówiono typowe źródła szumów występujące w przyrządach pólprzewodnikowych, a mianowicie: cieplne, śrutowe, generacyjno-rekombinacyjne, 1/f, 1/f2, wybuchowe (RTS), lawinowe. Przedstawiono szumowe schematy zastępcze tranzystora bipolarnego, JFET i MOSFET oraz opisano wydajności poszczególnych źródeł szumów. Zasugerowano jak dobierać przyrządy półprzewodnikowe do małoszumowych układów w zakresie małych częstotliwości.
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja monograficzna
- Typ:
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku w języku o zasięgu międzynarodowym
- Tytuł wydania:
- The Industrial Electronics Handbook: Fundamentals of Industrial Electroncs strony 0 - 12
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2010
- Opis bibliograficzny:
- Konczakowska A., Wilamowski B.: Noise in semiconductor devices// The Industrial Electronics Handbook: Fundamentals of Industrial Electroncs/ ed. eds. Bogdan M. Wilamowski, J. David Irwin. Chicago, USA: CRC Press, 2010, s.0-12
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 175 razy