Search
Study of antistatic properties of TiO2:Tb and TiO2:(Tb,Pd) thin films obtained by magnetron sputtering process
Abstract
Praca zawiera opis metody pomiaru właściwości antystatycznych cienkich warstw wraz ze zdefiniowaniem kryteriów antystatyczności powierzchni. przedstawiono wyniki pomiarów czasów rozładowywania się warstw tlenkowych. materiały wytworzono metodą rozpylania magnetronowego.
Authors (6)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- International optoelectronics workshop/ Proceedings of 2009 International Students and Young Scientists Workshop: Photonics and Microsystems, Wernigerode 25-27.06.2009 strony 59 - 63
- Language:
- English
- Publication year:
- 2009
- Bibliographic description:
- Mazur M., Sieradzka K., Domaradzki J., Łapiński M., Górnicka B., Zieliński M.: Study of antistatic properties of TiO2:Tb and TiO2:(Tb,Pd) thin films obtained by magnetron sputtering process// International optoelectronics workshop/ Proceedings of 2009 International Students and Young Scientists Workshop: Photonics and Microsystems, Wernigerode 25-27.06.2009/ ed. eds. Jaroslaw Domaradzki, Karolina Sieradzka, Maciej Zielinski Piscataway, NJ: IEEE, 2009, s.59-63
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 66 times
Recommended for you
Mobility measurements in oxide semiconductors
- E. Prociów,
- M. S. Łapiński,
- J. Domaradzki
- + 3 authors
2009
Opis metody określania stopnia zwilżalności powierzchni cienkich warstw na przykładzie TiO2
- D. Wojcieszak,
- D. Kaczmarek,
- J. Domaradzki
- + 2 authors
2009