Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Homepage
https://eti.pg.edu.pl/katedra-metrologii-i-optoelektroniki/o-katedrze open in new tabAssociated units:
Research fields
Business contact
Centrum Transferu Wiedzy i Technologii
- Location
- Al. Zwycięstwa 27, 80-219 Gdańsk
- Phone
- +48 58 348 62 62
- biznes@pg.edu.pl
Team
![Photo of dr inż. Sylwia Babicz-Kiewlicz](/assets/profile,650465-1/photo.png)
Sylwia Babicz-Kiewlicz
dr inż.![Photo of dr inż. Bogdan Bartosiński](/assets/profile,2743-1/photo.png)
Bogdan Bartosiński
dr inż.![Photo of dr hab. inż. Robert Bogdanowicz](/assets/profile,16722-1/photo.png)
Robert Bogdanowicz
dr hab. inż.![Photo of dr hab. inż. Zbigniew Czaja](/assets/profile,11811-1/photo.png)
Zbigniew Czaja
dr hab. inż.![Photo of dr inż. Mateusz Ficek](/assets/profile,133801-1/photo.png)
Mateusz Ficek
dr inż.![Photo of dr inż. Stanisław Galla](/assets/profile,12885-1/photo.png)
Stanisław Galla
dr inż.![Photo of dr hab. inż. Marcin Gnyba](/assets/profile,13318-1/photo.png)
Marcin Gnyba
dr hab. inż.![Photo of dr inż. Katarzyna Karpienko](/assets/profile,124254-1/photo.png)
Katarzyna Karpienko
dr inż.![Photo of dr inż. Michał Kowalewski](/assets/profile,17983-1/photo.png)
Michał Kowalewski
dr inż.![Photo of mgr inż. Maciej Kraszewski](/assets/profile,109127-1/photo.png)
Maciej Kraszewski
mgr inż.![Photo of dr inż. Andrzej Kwiatkowski](/assets/profile,539890-1/photo.png)
Andrzej Kwiatkowski
dr inż.![Photo of dr hab. inż. Grzegorz Lentka](/assets/profile,12504-1/photo.png)
Grzegorz Lentka
dr hab. inż.![Photo of dr inż. Adam Mazikowski](/assets/profile,11820-1/photo.png)
Adam Mazikowski
dr inż.![Photo of dr hab. inż. Jerzy Pluciński](/assets/profile,6376-1/photo.png)
Jerzy Pluciński
dr hab. inż.![Photo of dr hab. inż. Jerzy Pluciński](/assets/profile,6376-1/photo.png)
Jerzy Pluciński
dr hab. inż.![Photo of inż. Marek Sienkiewicz](/assets/profile,14261-1/photo.png)
Marek Sienkiewicz
inż.![Photo of dr inż. Barbara Stawarz-Graczyk](/assets/profile,739351-1/photo.png)
Barbara Stawarz-Graczyk
dr inż.![Photo of dr inż. Marcin Strąkowski](/assets/profile,14364-1/photo.png)
Marcin Strąkowski
dr inż.![Photo of dr hab. inż. Małgorzata Szczerska](/assets/profile,15897-1/photo.png)
Małgorzata Szczerska
dr hab. inż.![Photo of dr inż. Arkadiusz Szewczyk](/assets/profile,13411-1/photo.png)
Arkadiusz Szewczyk
dr inż.![Photo of dr hab. inż. Wojciech Toczek](/assets/profile,5164-1/photo.png)
Wojciech Toczek
dr hab. inż.![Photo of dr hab. inż. Paweł Wierzba](/assets/profile,15543-1/photo.png)
Paweł Wierzba
dr hab. inż.![Photo of dr inż. Maciej Wróbel](/assets/profile,171779-1/photo.png)
Maciej Wróbel
dr inż.Research topics
- komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka
- projektowanie systemów
- mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych
- testowanie i diagnostyka elektroniczna
- pomiary właściwości szumowych i zakłóceń
- spektroskopia impedancyjna
- telemetria i telediagnostyka internetowa
- katedra redaguje Metrology and Measurement Systems
- kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Research methods
- zastosowanie optoelektronicznych metod pomiarowych w nauce, technice, medycynie, ekologii
- modelowanie i konstrukcje sensorów światłowodowych
- badania obiektów fizycznych nieinwazyjnymi metodami optycznymi (OCT)
- badania w zakresie systemów wizualizacji informacji oraz systemów rzeczywistości wirtualnej
- inżynieria materiałowa: synteza, badania i aplikację nowych materiałów cienkowarstwowych (ceramicznych: -PLZT, -DLC), oraz fizyczne i chemiczne metody wytwarzania cienkich warstw optoelektronicznych i mikroelektronicznych (PVD i CVD)
- zastosowanie materiałów ciekłokrystalicznych w technice pomiarowej
- spektrofotometryczne metody pomiarowe w badaniach materiałów i procesów technologicznych
Orders
-
Oferta Badawcza - * zastosowanie optoelektronicznych metod pomiarowych w nauce, technice, medycynie, ekologii
* modelowanie i konstrukcje sensorów światłowodowych
* badania obiektów fizycznych nieinwazyjnymi metodami optycznymi (OCT)
* badania i optymalizacja konstrukcji barwnych displejów ciekłokrystalicznych
* inżynieria materiałowa: synteza, badania i aplikację nowych materiałów cienkowarstwowych (ceramicznych: -PLZT, -DLC) oraz fizyczne i chemiczne metody wytwarzania cienkich warstw optoelektronicznych i mikroelektronicznych (PVD i CVD)
* spektrofotometryczne metody pomiarowe w badaniach materiałów i procesów technologicznych
* komputerowa analiza i projektowanie układów elektronicznych
* metrologia i diagnostyka wspomagana komputerowo
* pomiary i spektroskopia impedancyjna, telemetria i telediagnostyka internetowa
* projektowanie systemów, mikro- i makrosystemów elektronicznych, systemów wbudowanych
* testowanie i diagnostyka elektroniczna, pomiary właściwości szumowych elementów i zakłóceń w układach elektronicznych
* niezawodność elementów, podzespołów i układów elektronicznych
* kompatybilność elektromagnetyczna
* badanie właściwości czujników gazu
* spektroskopia Ramana
* przetwarzanie danych (np. w aplikacjach Internet of Things)
-
Oferta Usługowa - * badania kolorymetryczne obiektów (np. na potrzeby techniki, sztuki )
* charakteryzacja źródeł światła i displejów
* badania materiałów i wyrobów optyczną tomografią koherentną
* szkolenia i konsultacje w zakresie wdrożenia niskokoherencyjnych technik pomiarowych oraz pomiarów sygnałów optycznych małej mocy.
* zastosowanie sensorów światłowodowych w przemyśle, energetyce, budownictwie
* konsultacje i projektowanie systemów próżniowych, procesów syntezy warstw PV oraz PA CVD
* pomiary widmowe i reflektometryczne w sieciach światłowodowych
* integracja systemów spektroskopii Ramana oraz systemów kontrolnych i pomiarowych sterowanych komputerowo
* diagnostyka elementów elektronicznych
* badanie kompatybilności elektromagnetycznej
* przenośne systemy spektroskopii Ramana
Verified by
No verification
seen 605 times