Zespół Metrologii i Optoelektroniki - Potencjał Badawczy - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

Zespół Metrologii i Optoelektroniki

Strona domowa

https://eti.pg.edu.pl/katedra-metrologii-i-optoelektroniki/o-katedrze otwiera się w nowej karcie

Jednostki powiązane:

Obszary badawcze

Kontakt dla biznesu

Centrum Transferu Wiedzy i Technologii
Lokalizacja
Al. Zwycięstwa 27, 80-219 Gdańsk
Telefon
+48 58 348 62 62
E-mail
biznes@pg.edu.pl

Zespół

Zdjęcie użytkownika prof. dr hab. inż. Janusz Smulko

Janusz Smulko

prof. dr hab. inż. Kierownik zespołu
Zdjęcie użytkownika dr hab. inż. Robert Bogdanowicz

Robert Bogdanowicz

dr hab. inż.
Zdjęcie użytkownika dr hab. inż. Zbigniew Czaja

Zbigniew Czaja

dr hab. inż.
Zdjęcie użytkownika dr inż. Mateusz Ficek

Mateusz Ficek

dr inż.
Zdjęcie użytkownika dr inż. Stanisław Galla

Stanisław Galla

dr inż.
Zdjęcie użytkownika dr hab. inż. Marcin Gnyba

Marcin Gnyba

dr hab. inż.
Zdjęcie użytkownika mgr inż. Maciej Kraszewski

Maciej Kraszewski

mgr inż.
Zdjęcie użytkownika dr hab. inż. Grzegorz Lentka

Grzegorz Lentka

dr hab. inż.
Zdjęcie użytkownika dr inż. Adam Mazikowski

Adam Mazikowski

dr inż.
Zdjęcie użytkownika dr hab. inż. Jerzy Pluciński

Jerzy Pluciński

dr hab. inż.
Zdjęcie użytkownika dr hab. inż. Jerzy Pluciński

Jerzy Pluciński

dr hab. inż.
Zdjęcie użytkownika dr hab. inż. Małgorzata Szczerska

Małgorzata Szczerska

dr hab. inż.
Zdjęcie użytkownika dr hab. inż. Wojciech Toczek

Wojciech Toczek

dr hab. inż.
Zdjęcie użytkownika dr hab. inż. Paweł Wierzba

Paweł Wierzba

dr hab. inż.
Zdjęcie użytkownika dr inż. Maciej Wróbel

Maciej Wróbel

dr inż.

Tematyka badawcza

  • komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka
  • projektowanie systemów
  • mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych
  • testowanie i diagnostyka elektroniczna
  • pomiary właściwości szumowych i zakłóceń
  • spektroskopia impedancyjna
  • telemetria i telediagnostyka internetowa
  • katedra redaguje Metrology and Measurement Systems
  • kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

Metody badawcze

  • zastosowanie optoelektronicznych metod pomiarowych w nauce, technice, medycynie, ekologii
  • modelowanie i konstrukcje sensorów światłowodowych
  • badania obiektów fizycznych nieinwazyjnymi metodami optycznymi (OCT)
  • badania w zakresie systemów wizualizacji informacji oraz systemów rzeczywistości wirtualnej
  • inżynieria materiałowa: synteza, badania i aplikację nowych materiałów cienkowarstwowych (ceramicznych: -PLZT, -DLC), oraz fizyczne i chemiczne metody wytwarzania cienkich warstw optoelektronicznych i mikroelektronicznych (PVD i CVD)
  • zastosowanie materiałów ciekłokrystalicznych w technice pomiarowej
  • spektrofotometryczne metody pomiarowe w badaniach materiałów i procesów technologicznych

Zlecenia

  • Oferta Badawcza - * zastosowanie optoelektronicznych metod pomiarowych w nauce, technice, medycynie, ekologii * modelowanie i konstrukcje sensorów światłowodowych * badania obiektów fizycznych nieinwazyjnymi metodami optycznymi (OCT) * badania i optymalizacja konstrukcji barwnych displejów ciekłokrystalicznych * inżynieria materiałowa: synteza, badania i aplikację nowych materiałów cienkowarstwowych (ceramicznych: -PLZT, -DLC) oraz fizyczne i chemiczne metody wytwarzania cienkich warstw optoelektronicznych i mikroelektronicznych (PVD i CVD) * spektrofotometryczne metody pomiarowe w badaniach materiałów i procesów technologicznych * komputerowa analiza i projektowanie układów elektronicznych * metrologia i diagnostyka wspomagana komputerowo * pomiary i spektroskopia impedancyjna, telemetria i telediagnostyka internetowa * projektowanie systemów, mikro- i makrosystemów elektronicznych, systemów wbudowanych * testowanie i diagnostyka elektroniczna, pomiary właściwości szumowych elementów i zakłóceń w układach elektronicznych * niezawodność elementów, podzespołów i układów elektronicznych * kompatybilność elektromagnetyczna * badanie właściwości czujników gazu * spektroskopia Ramana * przetwarzanie danych (np. w aplikacjach Internet of Things)
  • Oferta Usługowa - * badania kolorymetryczne obiektów (np. na potrzeby techniki, sztuki ) * charakteryzacja źródeł światła i displejów * badania materiałów i wyrobów optyczną tomografią koherentną * szkolenia i konsultacje w zakresie wdrożenia niskokoherencyjnych technik pomiarowych oraz pomiarów sygnałów optycznych małej mocy. * zastosowanie sensorów światłowodowych w przemyśle, energetyce, budownictwie * konsultacje i projektowanie systemów próżniowych, procesów syntezy warstw PV oraz PA CVD * pomiary widmowe i reflektometryczne w sieciach światłowodowych * integracja systemów spektroskopii Ramana oraz systemów kontrolnych i pomiarowych sterowanych komputerowo * diagnostyka elementów elektronicznych * badanie kompatybilności elektromagnetycznej * przenośne systemy spektroskopii Ramana

Weryfikacja

Brak weryfikacji

wyświetlono 608 razy