Search results for: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENTNA

Search results for: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENTNA

Found little results, maybe try searching with alternative method.

total: 1

Chosen catalog filters

Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential
- Department of Metrology and Optoelectronics
* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR