Search
Filters
total: 3
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (2)
Search results for: FAULT IDENTIFICATIONS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Systemów Geoinformatycznych
Research PotentialW katedrze prowadzone są badania naukowe w zakresie szeroko rozumianych Systemów Informacji Geograficznej (GIS). Tematyka badań obejmuje zastosowanie GIS w technologiach bezpieczeństwa, wizualizacje i analizy przestrzenne, systemy numerycznego prognozowania pogody, technologie nawigacji w ramach mobilnych systemów informacji przestrzennej, oraz zaawansowane techniki obrazowania satelitarnego. Katedra kontynuuje również badania...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (1)
Search results for: FAULT IDENTIFICATIONS
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Business OfferZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (1)
Search results for: FAULT IDENTIFICATIONS
-
Visual method for detecting critical damage in railway contact strips
PublicationEnsuring an uninterrupted supply of power in the electric traction is vital for the safety of this important transport system. For this purpose, monitoring and diagnostics of the technical condition of the vehicle's power supply elements are becoming increasingly common. This paper presents a new visual method for detecting contact strip damage, based on measurement and analysis of the movement of the overhead contact line (OCL)...