Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (2)
Search results for: KATEGORYZACJA USZKODZEŃ
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Geotechniki, Geologii i Budownictwa Morskiego
Research Potential* badania teoretyczne i doświadczalne oraz analizy numeryczne w Mechanice Gruntów; * badania laboratoryjne i polowe gruntów; * metody wzmacniania podłoża gruntowego; * “zieloną geotechnikę” z zastosowaniem ekologicznych materiałów, technologii i zagospodarowaniem produktów ubocznych; * badania teoretyczne, doświadczalne oraz zagadnienia praktyczne fundamentowania w odniesieniu do fundamentów bezpośrednich i głębokich, tunelowania,...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (3)
Search results for: KATEGORYZACJA USZKODZEŃ
-
A prediction of the fault-induced instability of circuit under test as a new approach in categorisation of faults.
PublicationW artykule przedstawiono nowy sposób kategoryzacji uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych. Zaproponowano kryterium oparte na predykcji niestabilności indukowanej przez uszkodzenie w testowanym układzie. Przyjeto, że granicą pomiędzy uszkodzeniem miękkim i katastroficznym jest najmniejsza odchyłka parametru elementu, która sprowadza układ testowany do granicy stabilności. Wzrost wartości odchyłki poza wyznaczony margines...
-
Ochrona wybrzeża oraz ochrona przed powodzią od strony morza : spojrzenie niemieckie
PublicationRozwiązania niemieckie w zakresie ochrony brzegowej oraz ochrony przed powodzią. Charakterystyczna kategoryzacja. Stosowane rozwiązania.
-
Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych
PublicationPraca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...