Search
Filters
total: 147
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (108)
Search results for: LOW-FREQUENCY NOISE
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Systemów Automatyki
Research PotentialW dziedzinie dydaktyki, przez wszystkie lata istnienia, katedra pełniła wiodącą rolę w kształceniu automatyków na wydziale sprawując opiekę nad specjalnościami, których nazwa i przynależność do kierunku studiów zmieniała się kilkakrotnie wraz ze zmianami organizacyjnymi zarówno struktury wydziału jak programu studiów. Ostatecznie, w 1991 roku utworzony został nowy kierunek studiów Automatyka i Robotyka, który pozostaje pod pieczą...
-
Zespół Katedry Systemów Automatyki
Research PotentialZespół Katedry Systemów Automatyki zajmuje się zarówno teorią, jak i praktyczną realizacją urządzeń sterujących obiektami technicznymi i procesami technologicznymi bez udziału człowieka lub z jego ograniczonym udziałem. Układy i systemy automatyki wkraczają we wszystkie niemal dziedziny życia, zwłaszcza w gospodarkę, przemysł i naukę. Korzyści wynikające z automatyzacji i robotyzacji widać wyraźnie, zwłaszcza w przemyśle (samochodowym,...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (39)
Search results for: LOW-FREQUENCY NOISE
-
Laboratorium Wysokich Napięć
Business OfferBadania układów probierczych i pomiarowych stosowanych w technice wysokiego napięcia
-
Laboratorium Badań Drogowych
Business Offer -
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (5970)
Search results for: LOW-FREQUENCY NOISE
-
The Low-frequency Noise of SiC MESFETs
PublicationPrzedstawiono system do pomiaru szumów małoczestotliwościowych tranzystorów SiC MESFET oraz przykładowe wyniki pomiarów.
-
The Low Frequency Noise Behaviour of SiC MESFETs
Publication -
Low-frequency noise in ZnO varistor structures
Publication -
A Model for Low Frequency Noise Generation in MOSFETs.
PublicationPrzedstawiono model generacji szumów małoczęstotliwosciowych tranzystora MOS. Model został użyty do symulacji szumów cienkotlenkowych tranzystorów MOS. Wyniki symulacji porównano z danymi pomiarowymi. Zaprezentowano sposób wykorzystania pomiarów szumów m.cz. do wyznaczania niektórych parametrów charakteryzujących tranzystory MOS.
-
Assessment of Supercapacitor’s Quality by Means of Low Frequency Noise
PublicationLow frequency noise is a well-known tool for quality and reliability assessment of electronic devices. This phenomenon is observed in different electrochemical devices as well (e.g., smart windows, electrochemical corrosion processes). Thus, we can assume that the same tool can be used to asses quality of supercapacitors. Their quality is usually determined only by capacitance and/or equivalent series resistance (ESR), or impedance....