Zespół Systemów Geoinformatycznych

W katedrze prowadzone są badania naukowe w zakresie szeroko rozumianych Systemów Informacji Geograficznej (GIS). Tematyka badań obejmuje zastosowanie GIS w technologiach bezpieczeństwa, wizualizacje i analizy przestrzenne, systemy numerycznego prognozowania pogody, technologie nawigacji w ramach mobilnych systemów informacji przestrzennej, oraz zaawansowane techniki obrazowania satelitarnego. Katedra kontynuuje również badania...

Zespół Metrologii i Optoelektroniki

* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

Zespół Systemów i Sieci Radiokomunikacyjnych

Aktualnie zespół Katedry prowadzi działalność badawczą w dziedzinie szeroko rozumianej radiokomunikacji, przy czym do najważniejszego nurtu naszej działalności zaliczamy badania systemowe w następujących obszarach: trendy rozwojowe współczesnej radiokomunikacji obejmujące systemy LTE, nowe interfejsy radiowe oraz zarządzanie zasobami radiowymi, radio programowalne określane skrótowo nazwą SDR (Software Defined Radio), zwłaszcza...

Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów

Zespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...

Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii

Stanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...

Piotr Grudowski

Pomiary długości i kąta, pomiary wielkości elektrycznych Testowanie elementów mechatronicznych

Ryszard Katulski prof. dr hab. inż.

Kazimierz Orłowski prof. dr hab. inż.