Znajomość właściwości szumowych elementów elektronicznych w zakresie małych częstotliwości, gdzie dominują szumy o widmie typu 1/f, stanowi efektywne narzędzie oceny jakości procesu technologicznego wytwarzania tych elementów oraz predykcji ich niezawodności. Przeprowadzenie dokładnych pomiarów parametrów i charakterystyk szumowych stwarza jednak często wiele problemów.

Przedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systmów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych, które mogą być stosowane do analizy szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Określono warunki pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Dokonano podziału systemów...

W referacie przestawiono stosowane w praktyce metody pomiaru rezystancji uziemienia. Omówiono klasyczne metody pomiarowe oraz metody, które nie wymagają rozłączania zacisków kontrolnych, a nawet rozmieszczania sond pomiarowych na czas pomiaru. Zaprezentowano zasady pomiaru rezystancji uziemienia złożonych systemów uziemiających w stacjach elektroenergetycznych najwyższych napięć. Przedstawiono możliwości pomiaru rezystancji uziemienia,...

Omówiono metody pomiarów parametrów uziemień odgromowych metodami statycznymi, częstotliwościowymi i udarowymi.

W artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych...