Search results for: PRÓG KOMPARATORA

Search results for: PRÓG KOMPARATORA

Found little results, maybe try searching with alternative method.

Filters

total: 2

Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Research Potential
- Department of Microelectronic Systems
* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential
- Department of Metrology and Optoelectronics
* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

Projektowanie testu układu elektronicznego
Publication
- W. Toczek
- Year 2011
Przedstawiono analityczną metodę doboru optymalnego progu komparatora, różnicującego nieprawidłowe i poprawne odpowiedziukładu testowanego. Obliczenia, wykonywane z uwzględnieniem niepewności pomiaru i tolerancji produkcyjnych, mają na celu uzyskanieoptymalnych poziomów uszkodzeń i straty uzysku. Wykorzystano modele probabilistyczne odpowiedzi układu testowanego i procesu pomiarowego.