Search
Filters
total: 9
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (7)
Search results for: PRZEMYSŁ ELEKTRONICZNY
-
Katedra Chemii Analitycznej
Research PotentialZespół naukowo-badawczy z Katedry Chemii Analitycznej prowadzi badania podstawowe w zakresie: -opracowania nowych procedur analitycznych przeznaczonych do wykrywania, identyfikacji oraz oznaczenia szerokiego spectrum analitów w próbkach różnego typu materiałów charakteryzujących się złożonym a często także zmiennym składem matrycy, -budowy i badań charakterystyki analitycznej nowych typów elektronicznych nosów, -oszacowania wpływu...
-
Zespół Technologii Sieciowych i Inżynierii Bezpieczeństwa
Research Potential1. Analizy bezpieczeństwa funkcjonalnego infrastruktury krytycznej; 2. Modelowanie, synteza oraz projektowanie systemów monitorowania, sterowania i automatyki zabezpieczeniowej z wykorzystaniem techniki mikroprocesorowej, sterowników programowalnych PLC i systemów informatycznych; 3. Diagnostyka i zarządzanie procesami eksploatacji systemów technicznych.
-
Zespół Katedry Automatyki
Research PotentialMikroprocesorowe urządzenia pomiarowo-rejestrujące i systemy monitorowania wykorzystujące technologie sieciowe, systemy sterowania urządzeniami i procesami technologicznymi. Systemy sterowania w obiektach energetyki odnawialnej, skupionych i rozproszonych. Modelowanie i symulacja obiektów dynamicznych, procesów oraz systemów sterowania i kontroli; projektowanie interfejsów operatorskich. Systemy elektroenergetyczne i automatyki...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (2)
Search results for: PRZEMYSŁ ELEKTRONICZNY
-
Piotr Grudowski
Business OfferPomiary długości i kąta, pomiary wielkości elektrycznych Testowanie elementów mechatronicznych
-
Laboratorium Inżynierii Jakości LAB Q
Business Offer1. Six sigma – podstawy 2. Six Sigma – wybrane narzędzia (m.in. analiza rozkładu - rozkład normalny/dwumianowy, normalizacja rozkładu – centralne twierdzenie graniczne) 3. Six Sigma - testowanie hipotez (rozróżnianie grup komponentów na podstawie pomiarów i analizy statystycznej) z wykorzystaniem programu Minitab 4. Analiza systemów pomiarowych (MSA) dla pomiarów powtarzalnych z wykorzystaniem programu Minitab (m.in. Gage R&R...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (1)
Search results for: PRZEMYSŁ ELEKTRONICZNY
-
AFM-assisted investigation of conformal coatings in electronics
PublicationPurpose – This paper aims to presents a new method of investigation of local properties of conformal coatings utilized in microelectronics. Design/methodology/approach – It is based on atomic force microscopy (AFM) technique supplemented with the ability of local electrical measurements, which apart from topography acquisition allows recording of local impedance spectra, impedance imaging and dc current mapping. Potentialities...