Search
Filters
total: 81
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (65)
Search results for: THICKNESS MEASUREMENTS
-
Zespół Obrabiarek, Narzędzi i Obróbki Skrawaniem
Research PotentialMechaniczna technologia drewna
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Technologii Obiektów Pływających, Systemów Jakości i Materiałoznawstwa
Research Potential* badania optymalizacyjne nowych technologii oraz rodzajów rozwiązań konstrukcyjno - technologicznych konstrukcji kadłubów okrętowych * przemysłowe prototypy urządzeń i systemy zautomatyzowanej, sterowanej komputerowo diagnozy kształtu wielkogabarytowych konstrukcji płaskich * systemy dynamicznej kontroli jakości w trakcie produkcji kadłuba okrętowego * optymalizacja konstrukcji i technologii oraz budowa prototypów modułowej serii...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (16)
Search results for: THICKNESS MEASUREMENTS
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Business OfferZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Technologii Maszyn i Inżynierii Odwrotnej
Business Offer -
Laboratorium Konstrukcji Oceanotechnicznych
Business OfferBadania mechaniczne, badania zmęczeniowe, badania metalograficzne, badania całych węzłów konstrukcyjnych, pomiary wytężenia rzeczywistych konstrukcji
Other results Pokaż wszystkie wyniki (532)
Search results for: THICKNESS MEASUREMENTS
-
Studies on optical transmittance of boron-doped nanocrystalline diamond films
PublicationThickness is one of the most important parameters in many applications using thin layers. This article describes thickness determination of a boron-doped nanocrystalline diamond (NCD) grown on fused silica glass. A spectroscopic measurement system has been used. A high refractive index (2.3 at 550nm) was achieved for NCD films. The thickness of NCD samples has been determined from the transmission spectrum.
-
Spectroscopic Optical Coherence Tomography for Thin Layer and Foil Measurements
PublicationThe main goal of this research was to assess if it is possible to evaluate the thickness of thin layers (both thin films on the surface and thin layers below the surface of the tested object) and foils using optical coherence tomography (OCT) for thickness assessment under the resolution of the standard commercially available OCT measurement system. In the proposed solution, light backscattered from the evaluated thin layer has...
-
Au nanostructures coated with a ultrathin film of Al2O3 - measurements and FDTD simulations
Open Research DataGold plasmonic platforms have been coated with an ultra-thin films of aluminium oxide. Optical measurements, showing the influence of the thickness of Al2O3 on plasmon resonance position. The observed red-shift of the resonance location with the increase of the thickness of the Al2O3 film, can be explained by the change in the dielectric function of...
-
Influence of vacuum sublimation deposited metal layer thickness on metrological parameters of the amperometric gas sensor with Nafion membrane
PublicationThe paper presents the results of investigation on an influence of vacuum sublimation deposited platinum layer thickness on the signal, sensitivity and response time of a prototype of sulphur dioxide sensor with Nafion membrane. The working electrode was made by vacuum sublimation deposition of platinum on a surface of Nafion membrane. Pt layers deposited changed an initial structure of Nafion membrane and that phenomenon was utilized...
-
New Complementary Resonator for Permittivity- and Thickness-Based Dielectric Characterization
PublicationThe design of high-performance complementary meta-resonators for microwave sensors featur-ing high sensitivity and consistent evaluation of dielectric materials is challenging. This paper presents the design and implementation of a novel complementary resonator with high sensi-tivity for dielectric substrate characterization based on permittivity and thickness. A comple-mentary crossed arrow resonator (CCAR) is proposed and integrated...