Search results for: TIME-OF-FLIGHT SPECTRA - Bridge of Knowledge

Search

Search results for: TIME-OF-FLIGHT SPECTRA

Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (110)

Search results for: TIME-OF-FLIGHT SPECTRA

  • Zespół Spektroskopii Elektronowej

    Zespół Spektroskopii Elektronowej specjalizuje się w badaniach procesów oddziaływania różnych form promieniowania z atomami i cząsteczkami znajdującymi się w fazie gazowej. W szczególności badania koncentrują się na opisie mechanizmów wzbudzenia i jonizacji atomów i cząsteczek, dysocjacji biomolekuł poddanych działaniu promieniowania elektromagnetycznego oraz pod wpływem zderzeń z elektronami i kationami. W Zespole prowadzone są...

  • Zespół Metrologii i Optoelektroniki

    * komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

  • Zespół Katedry Fizyki Atomowej, Molekularnej i Optycznej

    Katedra Fizyki Atomowej, Molekularnej i Optycznej specjalizuje się w badaniach naukowych w zakresie: * fizyki zderzeń elektronowych * teoretycznej fizyki atomowej i molekularnej * doświadczalnej optyki kryształów

Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (38)

Search results for: TIME-OF-FLIGHT SPECTRA

Other results Pokaż wszystkie wyniki (5945)

Search results for: TIME-OF-FLIGHT SPECTRA

  • Yields and Time-of-Flight Spectra of Neutral High-Rydberg Fragments at the K Edges of the CO2 Molecule

    Publication
    • A. Kivimäki
    • C. Stråhlman
    • T. Wąsowicz
    • J. Kettunen
    • R. Richter

    - JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY A - Year 2016

    We have studied the production of neutral fragments in high-Rydberg (HR) states at the C 1s and O 1s edges of the CO2 molecule by performing two kinds of experiments. First, the yields of neutral HR fragments were measured indirectly by ionizing such fragments in a static electric field and by collecting resulting singly charged positive ions as a function of the photon energy. Such measurements reveal not only excitations below...

    Full text to download in external service

  • Time-of-flight spectroscopy for medical applications.

    Publication

    - Year 2004

    W pracy przedstawiono korzyści optycznej spektroskopii czasu przelotu, w zastosowaniach medycznych. Przedstawiono także zasadę pomiarów oraz pokazano, jak z danych pomiarowych można wyznaczyć podstawowe parametry optyczne tkanki. Potencjał pomiarowy optycznej spektroskopii czasu przelotu zaprezentowano na przykładzie pomiarów ośrodków silnie rozpraszających światło jakimi są: papier, cicze technologiczne z papierni, wodne roztwory...

  • Time-of-flight fiber optic sensors for strain and temperature measurement

    Publication

    W pracy przedstawiono światłowodowy sensor czasu przelotu do pomiaru odkształceń i temperatury mogący pracować zarówno w modzie transmisyjnym, jak i odbiciowym. W pomiarach czasu przelotu wykorzystano krótkie impulsy światłowodowe wprowadzane do jednodomowego światłowodu. Pod wpływem czynników zewnętrznych (temperatura, odkształcenie, siła rozciągająca) zmieniała się droga optyczna w światłowodzie, co powodowało zmiany czasu przelotu...

  • Optical time of flight spectroscopy for highly scattering materials measurements.

    Publication

    W artykule omówiono możliwości wykorzystania optycznej spektroskopii czasu przelotu w wyznaczaniu podstawowych parametrów optycznych materiałów silnie rozpraszających światło. Wykorzystano tu metodę Monte Carlo i metodę dyfuzji.

  • Applying of the optical time-of-flight spectroscopy for the paper and pulp characterization

    Publication

    - Year 2005

    W pracy przedstawiono korzyści wykorzystania optycznej spektroskopii czasu przelotu w badaniach papieru i miazgi drzewnej. Przedmiotem badań były różne gatunki papieru oraz miazgi drzewnej (bez obróbki cieplnej, po obróbce cieplnej lub po obróbce chemicznej). W pomiarach wykorzystano półprzewodnikowe lasery impulsowe oraz w charakterze fotoodbiorników kamerę smugową lub licznik fotonów.