Filters
total: 5
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (4)
Search results for: czestotliwosc
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej
Research PotentialSpecjalność badawcza KIMiA wiąże się z techniką b.w.cz. i dotyczy zakresu częstotliwości od setek megaherców do kilkudziesięciu gigaherców. Przedmiotem badań teoretycznych (analiza, synteza, symulacja i modelowanie komputerowe,) oraz eksperymentalnych są elementy (prowadnice, sprzęgacze, rozgałęzienia) oraz układy pasywne (cyrkulatory, przesuwniki fazy, obciążenia, tłumiki) i aktywne (wzmacniacze, mieszacze, powielacze, modulatory),...
-
Katedra Budownictwa i Inżynierii Materiałowej
Research Potential* budownictwo ogólne i przemysłowe * materiały budowlane, chemia budowlana * konstrukcje drewniane i zespolone * remonty i modernizacje konstrukcji budowlanych oraz fizyka budowli
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (1)
Search results for: czestotliwosc
-
Środowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych
Business OfferŚrodowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych powstało w ramach realizacji projektu CZT Centrum Zaawansowanych Technologii POMORZE i mieści się w Katedrze Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Laboratorium zostało wyposażone w specjalistyczne zaplecze aparaturowe, które w połączeniu z kompetencjami naukowymi i technologicznymi kadry pozwala na...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (18)
Search results for: czestotliwosc
-
passive spice networks from non-passive data
PublicationArtykuł przestawia technike generacji schematow zastepczych w formacie SPICE dla pasywnych układów mikrofalowych. Wynikowy schemat zastepczy ma zagwarantowana pasywnosc. Schematy zastepcze powstaja na podstawie symulacji lub pomiarow w dziedzinie czestotliwosci i moga byc wykorzystane do symulacji w dziedzinie czasu.
-
Investigations of vortex structures in granular materials under earth pressure conditions by DEM
PublicationW artykule pokazano rozwój wirów na poziomie ziarna materiału granulowanego podczas parcia pasywnego piasku na sztywną ściankę przemieszczającą się poziomo. Obliczenia wykonano stosując metodę DEM. Przyjęto 3 różne sposoby wyznaczenia wirów i ich czestotliwości.
-
Mesh-free approach to Helmholtz equation on radial basis functions
PublicationMetoda radialnych funkcji bazowych (RBF) jest coraz czesciej stosowana przy rozwiazywaniu rownan rozniczkowych czastkowych oraz zagadnien wlasnych. W szczegolnosci znalazla ona zastosowanie w problemach elektrodynamiki obliczeniowej. W publikacji zastosowano RBF do rozwiazania rownania Helmholtza. Wprowadzono nowy algorytm - adaptacyjny do wyznaczania centrow interpolacyjnych. Przedstawiona metode zastosowano do wyznaczenia rozkladow...
-
Genetic features of clinical Pseudomonas aeruginosa strains
PublicationW grupie 62 izolatów klinicznych sprawdzono obecność 6 wybranych czynnikow wirulencji. We wcześniejszych badaniach z wykorzystaniem techniki ERIC - PCR wykazano, że w analizowanej grupie 49 (79%) to szczepy, o dużum podobieństwie genetycznym (ponad 62%), każdy z pozostałych 13 izolatów zaliczono do osobnego genotypu, o zdecydownie niższym stopniu pokrewieństwa. W przypadku wszystkich 49 szczepów z pierwszej grupy stwierdzono obecność...
-
Ograniczenia wirtualnego miernika impedancji opartego na karcie akwizycji danych
PublicationW artykule przedstawiono wirtualny miernik parametrów elementów RLC, zrealizowany w oparciu o komputer PC z zainstalowana kartą akwizycji danych(PCI-6040E) wyposażoną w przetworniki a/c i c/a. Analizowano właściwości metrologiczne miernika zależne od parametrów zastosowanej karty. Przeprowadzono badania symulacyjne błędu pomiaru pojemności uwzględniajace rozdzielczośc i częstotliwośc próbkowania przetwornika a/c oraz jego czas...