Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (1)
Search results for: interferometria niskokoherentna
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Other results Pokaż wszystkie wyniki (10)
Search results for: interferometria niskokoherentna
-
Optical low-coherence interferometry for selected technical applications
PublicationW artykule przedstawiono teoretyczne podstawy optycznej interferometrii niskokoherentnej i przedyskutowano jej unikatowe właściwości. Opisano w nim opracowany przez autorów system OCT przeznaczony do badań strukturalnych materiałów technicznych. Badania te obejmują także zmiany stanu polaryzacji promieniowania rozproszonego w badanym obiekcie. W artykule zawarto wyniki badań wybranych materiałów silnie rozpraszających promieniowanie...
-
Shaping coherence function of sources used in low-coherent measurement techniques
PublicationW niskokoherencyjnych technikach pomiarowych kształt funkcji koherencji wykorzystywanego źródła ma bezpośredni wpływ na parametry metrologiczne układu pomiarowego. Z tego względu, w wielu aplikacjach niezbędne jest użycie metod pozwalających na zmianę kształtu tej funkcji. W artykule przeanalizowano możliwości kształtowania funkcji koherencji, a przedstawione analizy teoretyczne i wyniki symulacji komputerowych wskazują, że kształtowanie...
-
Multilayered structures examination using polarization sensitive optical coherence tomography
PublicationW artykule przedstawiono wstępne wyniki badań struktur warstwowych z użyciem systemu optycznej tomografii koherentnej z analizą stanu poaryzacji (PS-OCT). Omówiono budowę systemu oraz zakres stosowalności metody do badania złożonych struktur warstwowych.
-
Analiza stanu polaryzacji światła w układach optycznej tomografii koherentnej dla badań struktury materiałów optoelektronicznych i mikroelektronicznych
PublicationTematem rozprawy jest analiza stanu polaryzacji światła w optycznej tomografii koherentnej (OCT). Zagadnienie to dotyczy pomiaru stanu polaryzacji światła wsteczne odbitego lub wstecznie rozproszonego przez wewnętrzną strukturę badanego obiektu. Umożliwia to badanie właściwości optycznie anizotropowych materiałów, co pozwala na charakteryzację i rozróżnianie warstw tworzących wewnętrzną strukturę badanego obiektu oraz śledzenie...
-
Low-coherence method of hematocrit measurement
PublicationW artykule opisano niskokoherencyjna metodę pomiaru hematokrytu krwi.