Filters
total: 68
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (57)
Search results for: scanning spreading resistance microscopy
-
Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej
Research PotentialBadania realizowane przez pracowników Katedry obejmują w szczególności: zjawiska i procesy elektrochemiczne, podstawy korozji i zabezpieczenie przed korozją, inżynierię materiałowa, fizykochemię powierzchni. W Katedrze Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej realizowanych jest szereg kierunków związanych z badaniami podstawowymi jak i techniczno-technologicznymi. Głównymi obszarami działalności naukowej są: badania mechanizmu...
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Biomateriałów
Research PotentialInżynieria i technologia biomateriałów, inżynieria powierzchni, wytwarzanie implantów metalowych, rozwój materiałów odpornych na korozję
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (11)
Search results for: scanning spreading resistance microscopy
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Business OfferZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Materiałów Polimerowych
Business OfferLaboratorium jest wyposażone w:; • plastometr do badań wskaźnika szybkości płynięcia uplastycznionego tworzywa, ; • młot do badań udarności materiałów, ; • wtryskarkę hydrauliczną z urządzeniami peryferyjnymi wymaganymi do uruchomienia produkcji znormalizowanych próbek do badań wytrzymałościowych,; • zestaw urządzeń przetwórczo - pomiarowych;
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Business OfferBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Other results Pokaż wszystkie wyniki (458)
Search results for: scanning spreading resistance microscopy
-
High-Temperature Oxidation of Heavy Boron-Doped Diamond Electrodes: Microstructural and Electrochemical Performance Modification
PublicationIn this work, we reveal in detail the effects of high-temperature treatment in air at 600 °C on the microstructure as well as the physico-chemical and electrochemical properties of boron-doped diamond (BDD) electrodes. The thermal treatment of freshly grown BDD electrodes was applied, resulting in permanent structural modifications of surface depending on the exposure time. High temperature affects material corrosion, inducing...
-
Chemical-Assisted Mechanical Lapping of Thin Boron-Doped Diamond Films: A Fast Route Toward High Electrochemical Performance for Sensing Devices
PublicationThere is an urgent need for an effective and economically viable increase in electrochemical performance of boron-doped diamond (BDD) electrodes that are used in sensing and electrocatalytic applications. Specifically, one must take into consideration the electrode heterogeneity due to nonhomogenous boron-dopant distribution and the removal of sp2 carbon impurities saturating the electrode, without interference in material integrity....
-
Assessment of organic coating degradation via local impedance imaging
PublicationThe paper presents a new approach to organic coating condition evaluation at micrometer scale using localized impedance measurements. It is based on atomic force microscopy (AFM) in contact mode. Impedance is measured between conductive AFM tip and metal substrate covered with organic coating. A single-frequency voltage perturbation signal is applied between the electrodes and current response signal is registered. As the tip is...
-
SEM (scanning electron microscopy) and TEM (transmission electron microscopy) images of PMD and PMH
Open Research DataThese data contains SEM (scanning electron microscopy) and TEM (transmission electron microscopy) images of PMD and PMH. TEM was performed on a FEI Tecnai F30 transmission electron microscope operating at an acceleration voltage of 200 kV. SEM was done with a SEM, XL30ESEM-FEG with an acceleration voltage of 20 KV. Sample abbreviations (PMH, PMD) are...
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to scanning probe microscopy.
PublicationDynamic impedance spectroscopy, designed for measuring nonstationary systems, was used in combination with scanning probe microscopy. Using this approach, impedance mapping could be carried-out simultaneously with topography scanning. Therefore, correlation of electrical properties with particular phases of an examined sample was possible. The sample used in this study was spheroidal graphite cast iron with clearly defined phases...