Search
Filters
total: 7
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (5)
Search results for: spectroscopic ellipsometry
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej
Research PotentialBadania realizowane przez pracowników Katedry obejmują w szczególności: zjawiska i procesy elektrochemiczne, podstawy korozji i zabezpieczenie przed korozją, inżynierię materiałowa, fizykochemię powierzchni. W Katedrze Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej realizowanych jest szereg kierunków związanych z badaniami podstawowymi jak i techniczno-technologicznymi. Głównymi obszarami działalności naukowej są: badania mechanizmu...
-
Zespół Katedry Fizyki Teoretycznej i Informatyki Kwantowej
Research PotentialPrace naukowe prowadzone w Katedrze dotyczą współczesnych zagadnień fizyki teoretycznej i informatyki kwantowej. W ramach współpracy międzynarodowej stworzony został w Katedrze program komputerowy umożliwiający obliczanie relatywistycznych przejść w atomach i jonach. Jego celem jest dostarczenie danych atomowych potrzebnych do interpretacji pomiarów plazmy astrofizycznej i laboratoryjnej. Dane atomowe obejmują nie tylko siły oscylatorów...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (2)
Search results for: spectroscopic ellipsometry
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Business OfferZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Business OfferBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Other results Pokaż wszystkie wyniki (32)
Search results for: spectroscopic ellipsometry
-
Temperature-Dependent Spectroscopic Ellipsometry of Thin Polymer Films
Publication -
Optical properties of boron-doped nanocrystalline diamond films studied by spectroscopic ellipsometry
PublicationThe optical properties of boron-doped nanocrystalline diamond films, coated using Microwave Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition (μPE CVD) system, were analyzed by spectroscopic ellipsometry. Diamond films were deposited on silicon substrates. The ellipsometry data (refractive index (n(λ)), extinction coefficient (k(λ)) were modeled using dedicated software. Evolution of the optical structure with boron doping was observed...
-
P3HT:PCBM blend films phase diagram on the base of variable-temperature spectroscopic ellipsometry
Publication -
Phase diagram of P3HT:PC70BM thin films based on variable-temperature spectroscopic ellipsometry
Publication -
Variable Temperature Spectroscopic Ellipsometry as a Tool for Insight into the Optical Order in the P3HT:PC70BM and PC70BM Layers
PublicationTwo combined ellipsometric techniques—variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE) and variable temperature spectroscopic ellipsometry (VTSE)—were used as tools to study the surface order and dielectric properties of thin films of a poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl) (P3HT) mixture with a fullerene derivative (6,6-phenyl-C71-butyric acid methyl ester) (PC70BM). Under the influence of annealing, a layer of the ordered PC70BM...