Pomiar zdeterminowanych wartości nierówności profili powierzchni wyrażanych cyfrowo jest złożonym problemem interdyscyplinarnym, który zawiera istotne ograniczenia techniczne i metrologiczne, często niezauważane w praktyce pomiarowej i analizie ich wyników. Należy odpowiednio przyjąć cyfrowe parametry pomiaru profili powierzchni przed pomiarami, by spełnione były różne uwarunkowania zależne od charakteru nierówności oraz celu i...

Stereolitografia jest jedną z metod szybkiego prototypowania, w której przedmiot (model) uzyskujemy poprzez utwardzanie ciekłego polimeru za pomocą promieniowania laserowego. Metoda tą uzyskuje się dość dokładne przedmioty (modele) biorąc pod uwagę wymiar i kształt. Ten sposób wykonywania przedmiotów powoduje powstawanie specyficznej struktury powierzchni zwanej efektem schodkowym (stair-step effect, staircase). Struktura ta powoduje...

W pracy przedstawiono nową metodę analizy widmowej nierówności profilu powierzchni w szerokim zakresie składowych. Istotą problemu jest szerokopasmowe charakteryzowanie zaobserwowanych składowych nierówności profilu, tak jak występują w powierzchniach rzeczywistych i porównywanie amplitudowo-częstotliwościowych udziałów pomiędzy nimi jak również w stosunku do profilu pierwotnego. Przedstawiono oryginalną metodykę klasyfikowania,...

W pracy przedstawiono dopasowanie parametrów pomiaru do charakteru i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Podano zależności parametrów cyfrowych pomiaru nierówności warunkujące ich częstotliwościowe zakresy rozpatrywania. W podsumowaniu podano zakres analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni z dolno- i górnopasmowymi rodzajami ograniczeń oraz wskazówki...