Search
Filters
total: 59
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (46)
Search results for: QUANTUM METROLOGY
-
Zespół Katedry Fizyki Teoretycznej i Informatyki Kwantowej
Research PotentialPrace naukowe prowadzone w Katedrze dotyczą współczesnych zagadnień fizyki teoretycznej i informatyki kwantowej. W ramach współpracy międzynarodowej stworzony został w Katedrze program komputerowy umożliwiający obliczanie relatywistycznych przejść w atomach i jonach. Jego celem jest dostarczenie danych atomowych potrzebnych do interpretacji pomiarów plazmy astrofizycznej i laboratoryjnej. Dane atomowe obejmują nie tylko siły oscylatorów...
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Research Potential* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (13)
Search results for: QUANTUM METROLOGY
-
Laboratorium Materiałów Polimerowych
Business OfferLaboratorium jest wyposażone w:; • plastometr do badań wskaźnika szybkości płynięcia uplastycznionego tworzywa, ; • młot do badań udarności materiałów, ; • wtryskarkę hydrauliczną z urządzeniami peryferyjnymi wymaganymi do uruchomienia produkcji znormalizowanych próbek do badań wytrzymałościowych,; • zestaw urządzeń przetwórczo - pomiarowych;
-
Laboratorium Konstrukcji Oceanotechnicznych
Business OfferBadania mechaniczne, badania zmęczeniowe, badania metalograficzne, badania całych węzłów konstrukcyjnych, pomiary wytężenia rzeczywistych konstrukcji
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (1213)
Search results for: QUANTUM METROLOGY
-
Quantum metrology: Heisenberg limit with bound entanglement
PublicationQuantum entanglement may provide a huge boost in the precision of parameter estimation. However, quantum metrology seems to be extremely sensitive to noise in the probe state. There is an important still open question: What type of entanglement is useful as a resource in quantum metrology? Here we raise this question in relation to entanglement distillation. We provide a counterintuitive example of a family of bound entangled states...
-
Metrology and Measurement Systems
Journals -
At the Limits of Criticality-Based Quantum Metrology: Apparent Super-Heisenberg Scaling Revisited
PublicationWe address the question of whether the super-Heisenberg scaling for quantum estimation is indeed realizable. We unify the results of two approaches. In the first one, the original system is compared with its copy rotated by the parameter-dependent dynamics. If the parameter is coupled to the one-body part of the Hamiltonian, the precision of its estimation is known to scale at most as N−1 (Heisenberg scaling) in terms of the number...
-
Optical metrology for high fidelity LCD-TV
PublicationW pracy przedstawiono aktualny stan metrologii optycznej wyświetlaczy ciekłokrystalicznych (LCD) i omówiono niedoskonałości obecnych technik pomiarowych występujące w charakteryzacji wyświetlaczy o wysokiej wierności odwzorowania. Zaprezentowano urządzenia, procedury pomiarowe i metody obróbki danych umożliwiajace obiektywną ocenę właściwości ciekłokrystalicznych odbiorników telewizyjnych.Metody te umożliwiają identyfikację artefaktów...
-
Computer-assisted assessment of learning outcomes in the laboratory of metrology
PublicationIn the paper, didactic experience with broad and rapid continuous assessment of students’ knowledge, skills and competencies in the Laboratory of Metrology, which is an example of utilisation of assessment for learning, is presented. A learning management system was designed for manage, tracking, reporting of learning program and assessing learning outcomes. It has ability to provide with immediate feedback, which is used by the...