Filters
total: 3
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (2)
Search results for: reflektometria
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej
Research PotentialSpecjalność badawcza KIMiA wiąże się z techniką b.w.cz. i dotyczy zakresu częstotliwości od setek megaherców do kilkudziesięciu gigaherców. Przedmiotem badań teoretycznych (analiza, synteza, symulacja i modelowanie komputerowe,) oraz eksperymentalnych są elementy (prowadnice, sprzęgacze, rozgałęzienia) oraz układy pasywne (cyrkulatory, przesuwniki fazy, obciążenia, tłumiki) i aktywne (wzmacniacze, mieszacze, powielacze, modulatory),...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (1)
Search results for: reflektometria
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (16)
Search results for: reflektometria
-
Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.
PublicationW artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.
-
High resolution optical time-domain reflectometry using sub-picosecond laser sources
PublicationPrzedstawiono działanie sensorów światłowodowych wykorzystujących reflektometrię optyczną w dziedzinie czasu. Omówiono ograniczenia możliwości pomiarowych tej klasy sensorów wynikające z zastosowania w nich reflektometrów światłowodowych zaprojektowanych do zastosowań w telekomunikacji. Zaprezentowano sensory wykorzystujące specjalizowane reflektometry o dużej rozdzielczości. Przedstawiono koncepcję sensora wykorzystującego dwa...
-
Determination of ionic concentration in water using reflectometric optical reader. IV Workshopon Atomic and Molecular Physics.
PublicationW artykule zaprezentowano reflektometryczną metodę oznaczania stężenia jonów w wodzie wykorzystując suche testy. Kształt widma reflektancyjnego pola testowego jest proporcjonalny do stężenia jonu w roztworze.
-
Obciążenie wzorcowe na duże moce mikrofalowe
PublicationOmówiono krótko rozwój reflektometrów mikrofalowych oraz zasadę i konstrukcję reflektometrów pracujących z dużymi poziomami mocy. Przeanalizowano wpływ wartości modułu współczynnika odbicia obciążenia wzorcowego, które jest stosowane w procedurze kalibracyjnej reflektometrów, na dokładność reflektometrycznych pomiarów niedopasowania impedancyjnego oraz istotnych w badaniach procesów grzania mikrofalowego pomiarów mocy dostarczanej...
-
Koherentna tomografia optyczna wykorzystująca źródło o przestrajalnej długości fali.
PublicationOptyczne metody pomiarowe odgrywają w ostatnich latach coraz większą rolę w badaniach i diagnostyce medycznej. Mają one szereg zalet, do których zaliczyć można odporność na promieniowanie elektromagnetyczne, bezinwazyjność,bezpieczeństwo pomiaru oraz wysoką rozdzielczość. Jedną z najważniejszych technik stosowanych w diagnostyce medycznej jest koherentna tomografia optyczna (OCT). Jest to wysokorozdzielcza metoda obrazowania...