Search
dr hab. inż. Wojciech Toczek
Publications
Filters
total: 40
Catalog Publications
Year 2021
-
Risk Analysis by a Probabilistic Model of the Measurement Process
PublicationThe aim of the article is presentation of the testing methodology and results of examination the probabilistic model of the measurement process. The case study concerns the determination of the risk of an incorrect decision in the assessment of the compliance of products by measurement. Measurand is characterized by the generalized Rayleigh distribution. The model of the meas-urement process was tested in parallel mode by six risk...
Year 2018
-
Łączenie danych pomiarowych z dodatkową wiedzą metrologiczną w celu oceny niepewności pomiaru
PublicationPrzedstawiono modus operandi w ocenie niepewności pomiaru dla krótkich serii pomiarowych. Metoda wykorzystuje dodatkową wiedzę metrologiczną do zwiększenia liczby stopni swobody rozkładu t-Studenta, uzyskiwanego w wyniku bayesowskiej analizy wyników pomiarów. W rezultacie możliwe jest oszacowanie niepewności standardowych dla najkrótszych serii pomiarowych, o długości n=2 i n=3.
-
Wyrażanie niepewności za pomocą przedziałów
PublicationZ perspektywy dwóch różnych interpretacji prawdopodobieństwa - klasycznej (częstościowej) i subiektywnej (bayesowskiej) oraz propozycji nowego przewodnika ustalającego zasady obliczania i wyrażania niepewności pomiaru (GUM), porównano sposoby komunikowania niepewności za pomocą przedziałów: ufności, bayesowskiego, objęcia, rozszerzenia.
Year 2017
-
Zastosowanie statystyki Bayesowskiej do uzasadnienia zmiany sposobu obliczania standardowej niepewności pomiaru
PublicationCelem pracy jest wyjaśnienie powodu, dla którego Wspólny Komitet ds. Przewodników w Metrologii (JCGM) wprowadza zmianę sposobu obliczania standardowej niepewności pomiaru. Modyfikacja ma obowiązywać w nowej wersji przewodnika Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM). Rozważania w artykule są oparte na przykładzie oceny niepewności pomiaru metodą typu A, z zastosowaniem statystyki Bayesowskiej w formie eksperymentów...
Year 2016
-
How to apply the probabilistic model of measurement processes successfully
PublicationApplicational aspects of probabilistic model of measurement processes, proposed by G.B. Rossi, are considered. The main idea of the model - using of Bayes-Laplace postulate for solution of inverse probability problem, is substituted by Fisher's concept of the likelihood function, expressed in the data translated format. This approach gives a clear-sighted solution of inverse probability. Some recommendations for application of...
-
Metrological analysis of precision of the system of delivering a water capsule for explosive production of water aerosol
PublicationIn this paper an analysis of precision of the system controlling delivery by a helicopter of water-capsule designed for extinguishing large scale fires is presented. The analysis was performed using the numerical method of distribution propagation (Monte Carlo method) supplemented with results of application of the uncertainty propagation method. In addition the optimum conditions for the airdrop are determined to ensure achievement...
-
Risk of incorrect pass-fail decisions associated with assessment uncertainty
PublicationA mathematical framework for calculation teacher's and student's risks of incorrect pass-fail decisions under uncertainty of assessment, is presented. The probabilistic model of assessment process is adapted from interdisciplinary probabilistic theory of measurement.
Year 2015
-
Computer-assisted assessment of learning outcomes in the laboratory of metrology
PublicationIn the paper, didactic experience with broad and rapid continuous assessment of students’ knowledge, skills and competencies in the Laboratory of Metrology, which is an example of utilisation of assessment for learning, is presented. A learning management system was designed for manage, tracking, reporting of learning program and assessing learning outcomes. It has ability to provide with immediate feedback, which is used by the...
Year 2014
-
Błędy w przedstawianiu wyników pomiarów i wartości wielkości fizycznych popełniane w pracach studenckich
PublicationArtykuł powstał na bazie doświadczeń zdobytych podczas pracy dydaktycznej autora jako wykładowcy i nauczyciela akademickiego prowadzącego zajęcia w Laboratorium Podstaw Metrologii. Przytoczono przykłady nieprawidłowości w przedsta-wianiu wyników pomiarów i wartości wielkości fizycznych pochodzące z prac pisemnych studentów i skonfrontowano je z zaleceniami Międzynarodowego Układu Jednostek Miar (SI), oraz polskimi aktami prawnymi.
-
Demonstrator testera wbudowanego BIST dla układów w pełni różnicowych
PublicationPrzedstawiono demonstrator testera wbudowanego, przeznaczony do pracy na stanowisku dydaktycznym w laboratorium z przedmiotu Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne. Na stanowisku studenci zapoznają się z technologią BIST (ang. Built-In Self-Test), która jest przykładem wdrożenia strategii projektowania dla testowania.
-
Wyniki testowania probabilistycznych modeli procesu pomiarowego
PublicationPrzedstawiono wyniki testowania dwóch probabilistycznych modeli procesu pomiarowego – prostego oraz złożonego z etapów obserwacji i restytucji. Testowanie przeprowadzono za pomocą zestawu miar ryzyka. W wyniku testów modelu dwuetapowego wykryto efekt kumulowania się prawdopodobieństwa na krańcach zakresu pomiarowego podczas inwersji funkcji rozkładu warunkowego, pogarszający dokładność oceny ryzyka dla większych wartości niepewności...
Year 2013
-
Metody analizy ryzyka podejmowania błędnych decyzji z powodu niepewności pomiarów
PublicationReferat dotyczy sposobów definiowania ryzyka podejmowania błędnych decyzji z powodu niepewności pomiarów oraz metod jego obliczania. Usystematyzowano rodzaje prawdopodobieństw łącznych i warunkowych stosowanych jako miary ryzyka w kontekście procesów produkcyjnych. Dokonano przeglądu metod obliczania ryzyka, ze szczególnym uwzględnieniem metod Bayesowskich. Zwrócono uwagę na różnice w stosowanych probabilistycznych modelach pomiaru...
-
Stanowisko dydaktyczne do testowania i diagnostyki układów w pełni różnicowych
PublicationPrzedstawiono stanowisko dydaktyczne, przeznaczone do laboratorium z przedmiotu zaawansowane Metody pomiarowe i diagnostyczne. Na stanowisku studenci zapoznają się z testerem wbudowanym, który jest przykładem wdrożenia strategii projektowania dla testowania.
Year 2012
-
Ocena ryzyka ponoszonego przez producenta/konsumenta z powodu niepewności pomiarów
PublicationZaproponowano definicje ryzyka ponoszonego przez producenta i konsumenta z powodu niepewności pomiarów. Na przykładzie testowania amplitudy sygnału obliczono poziomy ryzyka według znanych z literatury i proponowanych definicji. Różnice między wynikami wskazują, że problem jest istotny. Proponowane podejście jest lepiej dostosowane do praktyki produkcyjnej.
-
Ryzyko ponoszone przez producenta i konsumenta z powodu niepewności pomiarów
PublicationPrzeprowadzono krytyczną dyskusję stosowanych w literaturze definicji ryzyka błędnych decyzji wynikających z niepewności pomiarów. Dla znanych rozkładów prawdopodobieństwa charakteryzujących produkcję i aparaturę pomiarową dokonano analizy ryzyka na przykładzie testowania amplitudy napięcia. Pokazano, że tradycyjne definicje ryzyka producenta i ryzyka konsumenta są przypisywane prawdopodobieństwom zaniżonym. Porównano je z definicjami...
Year 2011
-
Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems
PublicationPrzedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej...
-
Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych
PublicationW artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...
-
Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych w programowalnym systemie jednoukładowym
PublicationW referacie przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujacy na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urzadzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...
-
Projektowanie testu układu elektronicznego
PublicationPrzedstawiono analityczną metodę doboru optymalnego progu komparatora, różnicującego nieprawidłowe i poprawne odpowiedziukładu testowanego. Obliczenia, wykonywane z uwzględnieniem niepewności pomiaru i tolerancji produkcyjnych, mają na celu uzyskanieoptymalnych poziomów uszkodzeń i straty uzysku. Wykorzystano modele probabilistyczne odpowiedzi układu testowanego i procesu pomiarowego.
Year 2010
-
Wyznaczanie miar jakości testu z zastosowaniem probabilistycznego modelu pomiaru
PublicationZaproponowano szybką analityczną metodę wyznaczania miar jakości testu na etapie jego projektowania. Metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Podano przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora w układzie testującym wyrób elektroniczny.
seen 899 times