Krzysztof Piskorski - Science profile - Bridge of Knowledge

Search

Contact

E-mail
Xsyh@wp.pl

Publication showcase

  • Porównanie różnych metod pomiarów wysokości barier potencjału w strukturach MOS.

    - Year 2004

    W referacie omówiono sposoby eliminacji problemów upływności bramki przy pomiarach charakterystyk C(V) kondnsatorów z ultra-cienkim tlenkiem bramki. Przedstawiono sposoby wykorzystania trójelementowego schematu zastępczego kondensatora MOS i przykład analizy pojemności, konduktancji tlenku i rezystancji szeregowej, zmierzonych przy pomocy miernika impedancji Agilent 4294A.

seen 281 times