Proponowana tematyka projektu badawczego należy do dziedziny nieinwazyjnych i nieniszczących badań (NDE/NDT) szerokiej klasy obiektów i materiałów. Jest związana z optyczną tomografią koherentna, nowoczesną optyczną bezkontaktową i nieniszczącą techniką obrazowania wewnętrznej struktury materiałów i obiektów z mikrometrową rozdzielczością. Głównym celem naukowym wnioskowanego projektu jest poprawa właściwości metrologicznych i rozszerzenie funkcjonalności systemów polaryzacyjnej optycznej tomografii koherentnej (PS-OCT) przez zastosowanie spektroskopowej metody analizy promieniowania optycznego wstecznie rozproszonego przez badany obiekt. Nowa metoda umożliwi pomiar lokalnych zmian wielkości wewnątrz badanego materiału takich jak współczynnik załamania, parametry charakteryzujące optyczną anizotropię oraz rozpraszanie w funkcji długości fali. Nowe rozwiązanie posłuży do dokładniejszego i lepszego badania współczesnych materiałów i obiektów stosowanych między innymi w fotowoltaice, elektronice organicznej czy technologii MEMS i MOEMS a także umożliwi przeprowadzenie nieniszczących pomiarów właściwości nowych materiałów o złożonej strukturze, w tym domieszkowanych nanoczastkami, o unikatowych cechach. Bezpośrednim rezultatem prac będzie opracowanie metody spektralnej analizy stanu polaryzacji promieniowania optycznego wstecznie rozproszonego, przeznaczonej do zastosowania w systemach PS-OCT, oraz laboratoryjny system o dużych możliwościach adaptacji do specyfiki badanego obiektu. System ten będzie przeznaczony do prowadzenia zaawansowanych, nieniszczących badań materiałów i obiektów technicznych na potrzeby nauki i przemysłu.