A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances

Zbigniew Czaja

doi:10.1016/j.measurement.2009.01.014

A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances

Abstract

Przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów na wyjściach analogowych komparatorów, z których każdy ma inne napięcie progowe. Wejścia tych komparatorów są podłączone do wyjścia badanego układu analogowego pobudzanego impulsem prostokątnym. W ostatnim etapie mikrokontroler dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.

Citations

1 2

CrossRef
0

Web of Science
2 4

Scopus

Author (1)

Zbigniew Czaja dr hab. inż.

Cite as

Full text

download paper

downloaded 4 times

Publication version: Accepted or Published Version
DOI:: Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.measurement.2009.01.014
License: open in new tab

full content of the article see on external site open in new tab

Keywords

Details

Category:: Articles
Type:: artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Published in:: MEASUREMENT no. 42, pages 0 - 0,
ISSN: 0263-2241
Language:: English
Publication year:: 2009
Bibliographic description:: Czaja Z.: A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances// MEASUREMENT. -Vol. 42, nr. iss. 6 July (2009), s.0-0
DOI:: Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.measurement.2009.01.014
Verified by:: Gdańsk University of Technology