Search
Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface
Abstract
Przedstawiono uwarunkowania pomiaru, przetwarzania analogowo-cyfrowego i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Przedstawiono ograniczenia w pomiarze igłą, która odwzorowuje nierówności poprzeczne. Podano zależności parametrów pomiaru cyfrowego nierówności warunkujące zakresy ich rozpatrywania. Dla wartości przedziału próbkowania, dla którego nie jest spełnione twierdzenie o próbkowaniu przedstawiono warunek obcięcia górnopasmowego sygnału nierówności. W podsumowaniu podano wynikowy zakres częstotliwościowy nierówności powierzchni z dolno i górnoczęstotliwościowymi rodzajami ograniczeń oraz wskazanie ich doboru dla otrzymania właściwego zakresu znaczących nierówności powierzchni.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Metrology and Measurement Systems
no. 9,
pages 159 - 169,
ISSN: 0860-8229 - Language:
- English
- Publication year:
- 2002
- Bibliographic description:
- Boryczko A.: Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface// Metrology and Measurement Systems. -Vol. 9., nr. 2 (2002), s.159-169
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 79 times