Search
Abstract
Opisano dwa podstawowe szumowe modele metrologiczne czwórnika: ze źródłami szumów odniesionymi do wejścia i ze zwarciowymi prądami szumów. Parametry szumowe opisujące modele zawierające korelację pomiędzy prądami i/lub napięciami są mierzone przy zastosowaniu metod bezpośrednich i pośrednich. Przedstawiono kilka technik redukcji szumów własnych systemu pomiarowego. Szerzej zaprezentowano dwukanałowy system do pomiaru szumów z komputerowym sterowaniem układu polaryzacji merzonych przyrządów i z zastosowaniem środowiska programistycznego LabVIEW oraz procedury przetwarzania sygnałów szumowych.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Language:
- English
- Publication year:
- 2004
- Bibliographic description:
- Hasse L.: Measurement of noise parameter set in the low frequency range: requirements and instrumentation.// . -., (2004), s.0-0
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 106 times
Recommended for you
Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.
- Z. Chobola,
- L. Hasse,
- J. Sikula
- + 1 authors
2004