Search
Abstract
Opisano nową metodę identyfikacji i wizualizacji szumów RTS. Metoda ta oparta na graficznym przedstawieniu przebiegu szumowego jest szczególnie użyteczna do szybkiej selekcji elektronicznych elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono także rezultaty filtacji medianowej szumu zawierającego składową RTS. Filtrację medianową zastosowano do poprawienia obrazu szumu uzyskanego w wyniku zastosowania metody NSP.
Citations
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
4
Scopus
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Language:
- English
- Publication year:
- 2005
- Bibliographic description:
- Cichosz J., Szatkowski A.: Noise Scattering Patterns Method for Recognition of RTS Noise in Semiconductor Components // / : , 2005,
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1063/1.2036841
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 65 times