Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.

Małgorzata Szczerska; Ryszard Hypszer; Bogdan Kosmowski

Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.

Abstract

W artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.

Authors (3)

Małgorzata Szczerska prof. dr hab. inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Ryszard Hypszer dr inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Bogdan Kosmowski dr hab. inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:: Conference activity
Type:: publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Language:: Polish
Publication year:: 2004
Bibliographic description:: Jędrzejewska-Szczerska M., Hypszer R., Kosmowski B.: Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.// / : , 2004,
Verified by:: Gdańsk University of Technology