Search
Didn't find any results in this catalog!
But we have some results in other catalogs.Filters
total: 1301
-
Catalog
- Publications 668 available results
- Journals 5 available results
- People 59 available results
- Inventions 10 available results
- Projects 22 available results
- Laboratories 1 available results
- Research Teams 4 available results
- Research Equipment 1 available results
- e-Learning Courses 314 available results
- Events 3 available results
- Open Research Data 214 available results
displaying 1000 best results Help
Search results for: TECHNOLOGIA CIENKICH WARSTW
-
Pomiary grubości cienkich warstw metodą modulacji chromatycznej.
PublicationTematem artykułu jest pomiar grubości struktur cienkowarstwowych szerokostosowanych w optoelektronice, transparentnych warstw dielektrycznych. Grubość jest najistotniejszym parametrem warstwy i determinuje jej właściwościoptyczne. Metoda pomiaru grubości cienkich warstw powinna być bezkontaktowa, nieniszcząca, niekosztowna oraz odporna na zakłócenia
-
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
PublicationPrzedstawiono wybrane problemy diagnostyki ramanowskiej in-situ wzrostu cienkich warstw węglowych w prózniowym procesie CVD, w szczególności problemy doboru długości fali lasera oraz konstrucji głowic optycznych. Opisano system pomiarowy zrealizowany w Katedrze Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG. Przedstawiono wyniki wstępnych pomiarów oraz ich interpretację.
-
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
PublicationPrzedstawiono zagadnienia monitorowania in-situ prózniowego procesu wzrostu cienkich warstw węglowych, a w szczególności diamentowych i diamentopodobnych DLC. Zastosowanie pomiarów ramanowskich umożliwia zbadanie struktury warstwy na poziomie molekularnych (zawartości faz węglowych sp2 i sp3, a także defektów wodorowych). Użycie spektroskopii in-situ podczas procesu syntezy pozwala monotorować poprawność przebiegu procesu i opracować...
-
Wytwarzanie cienkich warstw azotku wanadu metodą termicznego azotowania tlenku wanadu
Publicationw niniejszej pracy opisano metodę wytwarzania cienkich warstw vn - sio2 poprzez termiczne azotowanie powłok vox - sio2. warstwy tlenku wanadu zostały naniesione na szklane podłoża metodą zol - żel. po wysuszeniu nastąpiło wygrzanie warstw w atmosferze amoniaku. wygrzewanie w temperaturze wyższej, od temperatury dysocjacji termiczne amoniaku, mikroporowatych warstw tlenku wanadu spowodowało azotowanie materiału. w konsekwencji procesu...
-
Wytwarzanie cienkich warstw dla tlenkowych ogniw paliwowych metodą pirolizy aerozolowej
PublicationCelem pracy doktorskiej były badania cienkich warstw wytworzonych za pomocą pirolizy aerozolowej na potrzeby tlenkowych ogniw paliwowych. Warstwy te miały spełniać funkcje ochronne dla dwóch zastosowań, jako bariera dyfuzyjna między katodą, a elektrolitem oraz jako warstwy ochronne dla stalowych interkonektorów pracujących w różnych atmosferach.
-
Metody wytwarzania cienkich warstw wykorzystywane przy produkcji tlenkowych ogniw paliwowych
Publication -
Opis metody określania stopnia zwilżalności powierzchni cienkich warstw na przykładzie TiO2
Publicationrozdział opisuje sposób określania stopnia zwilżalności powierzchni cienkich warstw tio2. badane warstwy wytworzono za pomocą zmodyfikowanej metody rozpylania magnetronowego. zwilżalność określono za pomocą specjalistycznego stanowiska do pomiaru kąta zwilżania metodą tak zwanej siedzącej kropli. wyniki pokazały, że badane warstwy tio2 posiadały właściwości hydrofilowe.
-
Optoelektroniczne narzędzia do badania in-situ przebiegu procesu syntezy cienkich warstw diamentopodobnych
PublicationW pracy przedstawiono optoelektroniczny system do diagnostyki in-situ plazmowych procesów CVD, wykorzystywanych do wytwarzania cienkich warstw diamentopodobnych. W systemie zastosowano przestrzenną optyczną spektroskopię emisyjną SR-OES i spektroskopię ramanowską. Pozwala to na jednoczesne badanie rozkładu cząstek w plaźmie i parametrów rosnącej warstwy. Opisano konstrukcję systemów pomiarowych, sprzęgniętych z komorą CVD za pomocą...
-
Optoelektroniczne narzędzia do badania in-situ przebiegu procesu syntezy cienkich warstw diamentopodobnych
PublicationPrzedstawiono optoelektroniczny system do diagnostyki in-situ plazmowych procesów CVD, wykorzystywanych do wytwarzania cienkich warstw diamentopodobnych. W systemie zastosowano przestrzenną optyczną spektroskopię emisyjną SR-OES i spektroskopię ramanowską. Pozwala to na jednoczesne badanie rozkładu cząstek w plaźmie i parametrów rosnącej warstwy. Opisano konstrukcję systemów pomiarowych, sprzęgniętych z komorą CVD za pomocą dedykowanych...
-
Optoelektroniczne metody pomiaru grubości cienkich transparentnych warstw wytwarzanych w procesach próżniowych.
PublicationW artykule opisano problemy związane z określaniem grubości cienkich transparentnych warstw dielektrycznych, syntetyzowanych w procesach próżniowych. Przedstawiono stosowane metody pomiarowe, szczególny nacisk kładąc na techniki optoelektroniczne, oparte na badaniu interferencji i zmiany stanu polaryzacji światła w wyniku oddziaływania z cienką warstwą oraz na analizie spektralnej. Opisano praktyczne układy, umożliwiające pomiary...