Search
Filters
total: 12
filtered: 5
Chosen catalog filters
Search results for: przyrzady polprzewodnikowe
-
Szumy z zakresu małych częstotliwości - Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych
PublicationPrzedstawiono ogólną ideę oceny jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów z zakresu małych częstotliwości. Szczegółowe rozważania ograniczono do szumów przyrządów półprzewodnikowych. Przedstawiono zagadnienia związane ze źródłami szumów z zakresu m.cz., metod pomiaru szumów własnych, systemów do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych. Opisano metody klasyfikacji przyrządów do grup o zróżnicowanej jakości....
-
Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych
PublicationW publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów...
-
Przyrząd wirtualny do wykrywania szumów wybuchowych w przyrządach półprzewodnikowych metodą obrazowania szumów
PublicationW artykule scharakteryzowano właściwości szumów wybuchowych (RTS) w dziedzinie czasu i częstotliwości oraz omówiono stosowane metody identyfikacji szumów RTS. Przedstawiono konstrukcję systemu, do szybkiej identyfikacji szumów wybuchowych, zbudowanego w oparciu o metodę Noise Scattering Pattern (NSP). System składa się z głowicy pomiarowej, zawierającej spolaryzowany badany przyrząd półprzewodnikowy, filtru dolnoprzepustowego,...
-
RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices
PublicationPrzedstawiono wyniki pomiarów szumów z zakresu małuch częstotliwości transoptorów typu CNY17. Pomiary wykonano w systemie zaprojektowanym i skonstruowanym przez Autorów. Stwierdzono występowanie szumów RTS w kilku egzemplarzach badanej próby transoptorów. Przeprowadzono analizę szumów RTS, zarówno w dziedzinie czasu, jak i w dziedzinie częstotliwości. Oszacowano wartość częstotliwości, przy której występują szumy wybuchowe, na...
-
Zasługi Profesora Michała Białki w kształtowaniu krajowej kadry naukowej w zakresie miernictwa półprzewodników.
PublicationPrzedstawiono działalność naukowo-badawczą w Ośrodku Miernictwa Półprzewodników w Politechnice Gdańskiej w latach 1955-2003. Omówiono zakres tema- tyki naukowej podejmowanej z inicjatywy prof. zw. dr hab. Michała Białki i Jego zasługi i osiągnięcia w kształceniu krajowej kadry na poziomie doktora i doktora habilitowanego.