Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych

Abstract

W publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów szumów RTS bez konieczności interpretacji wizualnej wzoru obrazu uzyskanego z graficznej reprezentacji wyników.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Articles
Type:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Published in:
Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne no. Tom 14, pages 649 - 655,
ISSN: 1732-1166
Language:
Polish
Publication year:
2007
Bibliographic description:
Stawarz-Graczyk B., Karczewski B.: Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych// Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne. -Vol. Tom 14., (2007), s.649-655
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 80 times

Recommended for you

Meta Tags