Search
Abstract
W publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów szumów RTS bez konieczności interpretacji wizualnej wzoru obrazu uzyskanego z graficznej reprezentacji wyników.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
no. Tom 14,
pages 649 - 655,
ISSN: 1732-1166 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2007
- Bibliographic description:
- Stawarz-Graczyk B., Karczewski B.: Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych// Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne. -Vol. Tom 14., (2007), s.649-655
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 123 times