Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych

Abstrakt

W publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów szumów RTS bez konieczności interpretacji wizualnej wzoru obrazu uzyskanego z graficznej reprezentacji wyników.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne nr Tom 14, strony 649 - 655,
ISSN: 1732-1166
Język:
polski
Rok wydania:
2007
Opis bibliograficzny:
Stawarz-Graczyk B., Karczewski B.: Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych// Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne. -Vol. Tom 14., (2007), s.649-655
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 123 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi