RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices

Abstrakt

Przedstawiono wyniki pomiarów szumów z zakresu małuch częstotliwości transoptorów typu CNY17. Pomiary wykonano w systemie zaprojektowanym i skonstruowanym przez Autorów. Stwierdzono występowanie szumów RTS w kilku egzemplarzach badanej próby transoptorów. Przeprowadzono analizę szumów RTS, zarówno w dziedzinie czasu, jak i w dziedzinie częstotliwości. Oszacowano wartość częstotliwości, przy której występują szumy wybuchowe, na podstawie oszacowania czasów trwania impulsów w ''stanie górnym'' i w ''stanie dolnym'' oraz z przebiegu widma S(f) i relacji f*S(f).

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 1

    Scopus

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język:
angielski
Rok wydania:
2005
Opis bibliograficzny:
Konczakowska A., Cichosz J., Stawarz-Graczyk B.: RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices // / : , 2005,
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1063/1.2036840
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 15 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi