Search results for: charakterystyka widmowa

• The new type of [Zr6(μ3-O)4 (μ3-OH)4] cluster core: Crystal structure and spectral characterization of [Zr6O4(OH)4(OOCR)12] (R = Bu^t^,C(CH3)2Et)

  Publication

  • P. Piszczek
  • A. Bradtke
  • A. Grodzicki
  • A. Wojtczak
  • J. Chojnacki

  - POLYHEDRON - Year 2007

  Sześciojądrowe oxo karboksylowe kompleksy cyrkonu(IV) zostały otrzymane z Zr(OR')4 i odpowiednich kwasów organicznych HOOCR (R=t-Bu, CMe2Et) w stosunku molowym 1:2. Struktury krystaliczne dwóch związków o wzorze [Zr6O4(OH)4(OOCR)12] (1 dla R=t-Bu i 2 dla R=-CMe2Et) zostały rozwiązane w grupie przestrzennej R-3. Substancje zostały przebadane termograwimetrycznie (TGA/DTA) oraz przy użyciu spektroskopii w podczerwieni ze zmienną...

  Full text to download in external service

• Measurement of selected characteristics of low-coherence optical signal sources for optical coherence tomography

  Publication

  • M. Szczerska
  • R. Hypszer

  - Year 2005

  OCT to nowa metoda badania wewnętrznych struktur materiałów. Wśród wielu technik detekcji sygnału optycznego wykorzystywanych w OCT najpopularniejszą i najbardziej obiecującą jest OLCR (Opticla-Low Coherence Reflectomerty - reflektometria niskokoherentna). OLCR wykorzystuje szerokopasmowe źródła, których parametry, jak np.: charakterystyka widmowa, charakterystyka szumowa, determinują właściwości metrologiczne systemu OCT. W artykule...

• Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii

  Laboratories

  • Centrum Zaawansowanych Technologii

  Stanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...