Search results for: uklady analogowe

• Analogowe Układy Elektroniczne - 2021/22

  e-Learning Courses

  • B. Pankiewicz
  • S. Szczepański

  Wydział ETI / I stopień studiów EiT/IBM/AiR: Układy elektroniczne

• Analogowe Układy Elektroniczne - 2022/23

  e-Learning Courses

  • B. Pankiewicz
  • S. Szczepański

  Wydział ETI / I stopień studiów EiT/IBM/AiR: Układy elektroniczne

• Analogowe układy scalone 2022-23

  e-Learning Courses

  • J. Jakusz

• Analogowe układy scalone 2023/2024

  e-Learning Courses

  • J. Jakusz

• Analogowe układy scalone 2024/2025

  e-Learning Courses

  • J. Jakusz

• Analogowe układy elektroniczne - laboratorium 2022/2023

  e-Learning Courses

  • G. Blakiewicz
  • W. Jendernalik
  • J. Jakusz

• Analogowe układy elektroniczne - laboratorium 2022/2023

  e-Learning Courses

  • G. Blakiewicz
  • W. Jendernalik
  • J. Jakusz

• Analogowe układy elektroniczne - laboratorium 2024/2025

  e-Learning Courses

  • G. Blakiewicz
  • W. Jendernalik
  • J. Jakusz

• Analogowe układy elektroniczne - laboratorium 2023/2024

  e-Learning Courses

  • G. Blakiewicz
  • W. Jendernalik
  • J. Jakusz

• Using a square-wave signal for fault diagnosis of analog parts of mixed-signal electronic embedded systems

  Publication

  • Z. Czaja

  - IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT - Year 2008

  Artykuł przedstawia nowe podejście do detekcji i lokalizacji pojedynczych katastroficznych i parametrycznych uszkodzeń części analogowych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych. Podejście składa się z trzech etapów: tworzenia słownika uszkodzeń na podstawie krzywych identyfikacyjnych, etapu pomiarowego w którym układ badany pobudzany jest falą prostokątną generowaną przez mikrokontroler a odpowiedź jest próbkowana...

  Full text to download in external service

• Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych

  Publication

  • Z. Czaja
  • M. Kowalewski
  • R. Zielonko

  - Przegląd Elektrotechniczny - Year 2011

  Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania...

• Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym

  Publication

  • Z. Czaja

  - Przegląd Elektrotechniczny - Year 2011

  Przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję...

  Full text to download in external service

• Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikato-rach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi

  Publication

  • M. Kowalewski
  • Z. Czaja

  - Measurement Automation Monitoring - Year 2014

  Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzysta-niem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera....

  Full text available to download

• Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1

  Publication

  • Z. Czaja
  • B. Bartosiński

  - Measurement Automation Monitoring - Year 2014

  Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem...

  Full text available to download

• Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych w programowalnym systemie jednoukładowym

  Publication

  • W. Toczek

  - Year 2011

  W referacie przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujacy na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urzadzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...