Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1 - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1

Abstract

Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w prze-strzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedyn-czych uszkodzeń parametrycznych w pierwszej w kolejności uszkodzonej sekcji filtra.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Articles
Type:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Published in:
Measurement Automation Monitoring pages 745 - 748,
ISSN: 2450-2855
Language:
Polish
Publication year:
2014
Bibliographic description:
Czaja Z., Bartosiński B.: Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1// Pomiary Automatyka Kontrola. -., nr. 9 (2014), s.745-748
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 94 times

Recommended for you

Meta Tags