Search
Abstract
Wzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych układów elektronicznych. Połączone wysiłki wielu firm i ośrodków badawczych doprowadziły do opracowania międzynarodowej normy IEEE1149.1 o nazwie "IEEE Standard TestAccess Port and Bounary-Scan Architekture".
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
no. 43,
pages 8 - 11,
ISSN: 0033-2089 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2002
- Bibliographic description:
- Borkowska M., Gonera M., Kern J.: Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. 43., nr. 12 (2002), s.8-11
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 75 times