Wyszukiwarka
Abstrakt
Wzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych układów elektronicznych. Połączone wysiłki wielu firm i ośrodków badawczych doprowadziły do opracowania międzynarodowej normy IEEE1149.1 o nazwie "IEEE Standard TestAccess Port and Bounary-Scan Architekture".
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
nr 43,
strony 8 - 11,
ISSN: 0033-2089 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2002
- Opis bibliograficzny:
- Borkowska M., Gonera M., Kern J.: Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. 43., nr. 12 (2002), s.8-11
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 117 razy