Search
Abstract
Przedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie zasilaniem oraz rozszerzone możliwości debugingu oprogramowania układów mikroprocesorowych.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Measurement Automation Monitoring
no. 57,
pages 1372 - 1375,
ISSN: 2450-2855 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Bartosiński B.: Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7// Pomiary Automatyka Kontrola. -Vol. 57., nr. nr 11 (2011), s.1372-1375
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 82 times