Search results for: BIST

• Geodetski List

  Journals

  ISSN: 0016-710X

• Sumarski List

  Journals

  ISSN: 0373-1332

• List

  Publication

  • Z. Cywiński

  - Pismo PG - Year 2012

  krótka biografia prof. Zbigniewa Kączkowskiego

• Tester wbudowany BIST dla mieszanych sygnałowo pakietów elektronicznych

  Publication

  • W. Toczek

  - Year 2005

  Zaproponowano oszczędne i nieinwazyjne rozwiązanie testera wbudowanego BIST dla w pełni różnicowej części analogowej układu mieszanego sygnałowo. Wymienione cechy testera osiągnięto wykorzystując właściwości nowo opracowanych wzmacniaczy operacyjnych z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego oraz modyfikując dotychczas stosowaną metodę testowania.

• Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo

  Publication

  • W. Toczek

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Year 2002

  Omówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.

• Best Practice Onkologie

  Journals

  ISSN: 0946-4565

• LABOUR HIST-AUST

  Journals

  ISSN: 0023-6942 , eISSN: 1839-3039

• LABOR HIST-UK

  Journals

  ISSN: 0023-656X , eISSN: 1469-9702

• Best Practices in Monitoring

  Publication

  • J. Bełdowski
  • J. Jakacki
  • M. Grabowski
  • T. Lang
  • K. Weber
  • L. Kotwicki
  • V. Paka
  • D. Rak
  • M. Golenko
  • M. Czub
  • M. Söderström

  - Year 2018

  Full text to download in external service

• Demonstrator testera wbudowanego BIST dla układów w pełni różnicowych

  Publication

  • W. Toczek
  • K. Kaczmarczyk-Mróz

  - Measurement Automation Monitoring - Year 2014

  Przedstawiono demonstrator testera wbudowanego, przeznaczony do pracy na stanowisku dydaktycznym w laboratorium z przedmiotu Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne. Na stanowisku studenci zapoznają się z technologią BIST (ang. Built-In Self-Test), która jest przykładem wdrożenia strategii projektowania dla testowania.

  Full text available to download