Search
Abstract
Omówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
no. 43,
pages 34 - 37,
ISSN: 0033-2089 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2002
- Bibliographic description:
- Toczek W.: Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. 43., nr. 6 (2002), s.34-37
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 92 times